在放大倍数较低的时候，透射电镜三维重构技术服务，tem成像的对比度主要是由于材料不同的厚度和成分造成对电子的吸收不同而造成的。而当放大率倍数较高的时候，复杂的波动作用会造成成像的亮度的不同，因此需要知识来对所得到的像进行分析。通过使用tem不同的模式，可以通过物质的化学特性、晶体方向、电子结构、样品造成的电子相移以及通常的对电子吸收对样品成像。台tem由马克斯·克诺尔和恩斯特·鲁斯卡在1931年研制，这个研究组于1933年研制了台分辨率超过可见光的tem，而台商用tem于1939年研制成功。
栅极位于阴、阳极之间，靠近灯丝顶端，为形似帽状的金属物，中心亦有一小孔供电子束通过。栅极上加有0～1000v的负电压（对阴极而言），这个负电压称为栅偏压vg，它的高低不同，可由使用者根据需要调整，栅极偏压能使电子束产生向中心轴会聚的作用，同时对灯丝上自由电子的发射量也有一定的调控抑制作用。
工作原理 ，在灯丝电源vf作用下，电流if流过灯丝阴极，使之---达2500℃以上时，便可产生自由电子并逸出灯丝表面。加速电压va 使阳极表面---了密集的正电荷，形成了一个---的正电场，在这个正电场的作用下自由电子便飞出了电子外。调整vf可使灯丝工作在欠饱和点，电镜使用过程中可根据对亮度的 需要调节栅偏压vg的大小来控制电子束流量的大小。
透射电子显微镜(transmission electron microscope，简称tem)，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。tem的分辨力可达0.2nm。
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