可进行综合分析。装上波长色散x射线谱仪（wdx）或能量色散x射线谱仪（edx），使具有电子探针的功能，也能检测样品发出的反射电子、x射线、阴极荧光、透射电子、俄歇电子等。把扫描电镜扩大应用到各种显微的和微区的分析方式，显示出了扫描电镜的多功能。另外，还可以在观察形貌图象的同时，对样品任选微区进行分析；装上半导体试样座附件，通过电动势象放大器可以直接观察晶体管或集成电路中的pn结和微观缺陷。由于不少扫描电镜电子探针实现了电子计算机自动和半自动控制，因而---提高了定量分析的速度。
透射电子显微镜(transmission electron microscope，简称tem)，干旱---电镜检测服务，可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。tem的分辨力可达0.2nm。
栅极位于阴、阳极之间，靠近灯丝顶端，为形似帽状的金属物，中心亦有一小孔供电子束通过。栅极上加有0～1000v的负电压（对阴极而言），这个负电压称为栅偏压vg，它的高低不同，可由使用者根据需要调整，栅极偏压能使电子束产生向中心轴会聚的作用，同时对灯丝上自由电子的发射量也有一定的调控抑制作用。
工作原理 ，在灯丝电源vf作用下，电流if流过灯丝阴极，使之---达2500℃以上时，便可产生自由电子并逸出灯丝表面。加速电压va 使阳极表面---了密集的正电荷，形成了一个---的正电场，在这个正电场的作用下自由电子便飞出了电子外。调整vf可使灯丝工作在欠饱和点，电镜使用过程中可根据对亮度的 需要调节栅偏压vg的大小来控制电子束流量的大小。
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