





现在我们发现束流的设置应该是随着放大倍数而变换的,对于tescan用户来说,比较方便,可以直接从软件中读取当前电镜调节对应的束流,结合视野宽度很容易知道单点像素的大小,半薄切片技术服务,从而快速找到束斑与像素匹配的工作条件。既---了没有信息丢失,又---了的束流强度和信噪比。
此外对于ebsd分析也一样,ebsd分析为了追求速度,需要较大束流,而束流增---增大束斑,导致花样重叠无法标定。而tescan用户则可以轻易的根据ebsd的步长来设置束斑大小,---在不会出现花样重叠的情况下束斑达到,采集速度快。
观察样品的景深大,视场大,图像富有立体感,可直接观察起伏较大的粗糙表面和试样凹凸不平的金属断口象等,使人具有亲临微观现场之感。
样品制备简单,只要将块状或粉末状的样品稍加处理或不处理,就可直接放到扫描电镜中进行观察,因而更接近于物质的自然状态。
可以通过电子学方法有效地控制和---图像,如亮度及反差自动保持,试样倾斜角度校正,图象旋转,或通过y调制---图象反差的宽容度,以及图象各部分亮暗适中。采用双放大倍数装置或图象选择器,可在荧光屏上同时观察放大倍数不同的图象。
现代的tem经常装备有允许操作人员将样品倾斜一定角度的夹具,以获得特定的衍射条件,而光圈也放在样品的上方以允许用户选择能够以合适的角度进入样品的电子束。这种成像方式可以用来研究晶体的晶格缺陷。通过认真的选择样品的方向,不仅能够确定晶体缺陷的位置,也能确定缺陷的类型。如果样品某一特定的晶平面仅比强的衍射角小一点点,任何晶平面缺陷将会产生非常强的对比度变化。然而原子的位错缺陷不会改变布拉格散射角,因此也就不会产生很强的对比度。

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